(1)明暗场对比图像
明场成像：在物镜后焦平面上，透射光束通过物镜孔径，衍射光束被阻挡以获得图像对比度。
暗场成像：将入射光束方向倾斜2θ角，让衍射光束通过物镜孔径，阻挡透射光束以获得图像对比度的方法。
▽明暗场光路示意图
▽硅内部位错的明场和暗场图像
来源：《之》【书】
(2) 高分辨率透射电镜(HRTEM)图像
HRTEM可以获得晶格条纹图像（反映晶面间距信息）、结构图像、单原子图像（反映晶体结构中原子或原子团的构型）等更高分辨率的图像信息。 但要求样品厚度小于1纳米。
▽HRTEM光路图
▽硅纳米线的HRTEM图像
来源：《之》【书】
(3) 电子衍射图
l 选区衍射（area，SAD）：微米级微区结构特征。
l 会聚光束衍射（beam，CBED）：纳米级微区结构特征。
l 微束衍射（MED）：纳米级微区结构特征。
▽电子衍射光路示意图
来源：《之》【书】
▽单晶氧化锌电子衍射图
▽非晶氮化硅的电子衍射图
▽锆镍铜合金的电子衍射图
来源：《之》【书】
6、设备制造商
世界上能生产透射电子显微镜的厂家并不多。 主要是欧洲、美国和日本的大型电子公司，如德国蔡司、美国FEI、日本日立等。
7. 故障排除
l TEM与SEM的区别：
当一束高能入射电子轰击材料表面时，激发区会产生二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线、透射电子以及可见光、紫外光和红外光中的电磁辐射地区。 。 扫描电子显微镜收集二次电子和背散射电子的信息，透射电子显微镜收集透射电子的信息。
SEM样品制备对样品的厚度没有特殊要求。 可以通过切割、研磨、抛光或解理方法呈现特定的横截面，从而将其转化为可观察的表面； TEM 获得的显微图像的质量很大程度上取决于样品的厚度。 ，所以样品的观察部分必须很薄，一般在10到100纳米以内，甚至更薄。
l 简述多晶（纳米晶）、单晶、非晶衍射图样的特点及形成原理：
单晶图案为零层二维倒易截面，其倒易点排列规则，具有明显的对称性偏光显微镜法观察聚合物球晶形态，且位于二维网格的网格点上。
多晶表面的衍射图样是每个衍射锥与垂直于入射光束方向的荧光屏或照相胶片之间的交线偏光显微镜法观察聚合物球晶形态，是一系列同心环。 将各组衍射晶面对应的倒易点分布组装成半径为1/d的倒易球，与埃瓦尔德球的交线为环。 因此，样品各晶粒的{hkl}晶面族为 衍射线轨迹，形成以入射电子束为轴、2θ为半锥角的衍射锥。 不同晶面族的衍射锥具有不同的2θ，但每个衍射锥具有共同的顶部和同轴。
非晶衍射图案是圆形斑点。
l 什么是衍射衬度？ 它与质量厚度对比有何不同？
在电子显微镜下观察晶体样品时，由于晶体取向不同和/或晶体结构不同，布拉格条件满足的程度不同，导致相应样品下表面的衍射效果不同，从而在下表面上形成随机位置。 不同的衍射振幅分布，这样形成的对比度称为衍射对比度。 质量-厚度对比是由于样品不同微区域的原子序数或厚度差异而形成的，适合解释复制膜样品的电子图像。
8. 参考书
《电子衍射图样在晶体学中的应用》郭欣欣、叶恒强、吴玉坤；
《电子衍射分析方法》，黄晓英；
《透射电子显微镜进展》叶恒强、王元明主编；
朱静、叶恒强、王仁辉等主编的《高空间分辨率分析电子显微镜》；
《材料评价的分析电子显微镜方法》（日文），新藤大辅和及川哲夫合着，刘安生译。
