- 常见的光干涉仪器
常见的光干涉仪器包括：
1. 干涉仪：用于测量透明薄膜的厚度、折射率等，特别适用于测量规则排列的微小气隙或微小薄片。
2. 干涉显微镜：用于观察和分析金属表面、半导体、聚合物等薄膜的微观结构。
3. 激光干涉仪：用于测量长度和角度，具有精度高、抗干扰能力强、响应速度快等特点。
4. 干涉型光谱仪：用于测量材料厚度、折射率、密度等，具有较高的空间分辨率和光谱测量能力。
5. 干涉型多光束检测仪：用于光纤通信、光缆制造等领域，可以测量光纤表面质量、光纤端面平整度等参数。
6. 干涉型表面质量检测仪：用于检测金属表面质量，如粗糙度、划痕深度等，具有较高的灵敏度和重复性。
此外，还有激光全息干涉仪、干涉型三维轮廓仪等仪器也属于光干涉仪器。
相关例题：
1. 将待测物体放置在干涉仪的样品台上。
2. 将样品台移动到干涉仪的中央位置。
3. 调整样品台的位置，确保样品台上的物体位于光源和光屏之间。
4. 调整光源，使其发出平行光。
5. 将光屏移动到干涉仪的合适位置，观察光屏上的干涉条纹是否清晰可见。
6. 如果干涉条纹不清晰，调整光源和光屏的位置，直到干涉条纹清晰可见。
7. 使用测量工具测量干涉条纹的数量和间距，并记录下来。
通过上述操作过程，可以完成使用干涉仪测量物体厚度或折射率的任务。需要注意的是，干涉仪的使用需要一定的专业知识和技能，建议在专业人员的指导下进行操作。
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