光的等厚干涉考试可能涉及以下内容：
1. 等厚干涉原理：介绍等厚干涉的原理，包括干涉原理、基本概念和特点。
2. 干涉图样分析：介绍各种干涉图样的特征和形成原理，包括牛顿环、楔形薄膜等厚干涉图样，以及实际应用中的干涉现象，如干涉滤光片、干涉光谱仪等。
3. 实验操作：介绍实验设备、操作步骤、注意事项等，包括如何调整仪器、如何测量等厚差等。
4. 误差分析：分析实验中可能出现的误差来源，如仪器误差、环境因素等，以及如何减小误差的方法。
5. 理论知识应用：结合实际应用，考察考生对等厚干涉理论知识的理解和应用能力，如如何利用等厚干涉原理进行厚度测量、光学零件的表面质量检测等。
6. 综合性题目：考察考生对等厚干涉的综合应用能力，包括多个知识点和实际应用的结合。
以上内容仅供参考，建议根据具体的考试内容和要求来复习，同时也可以查阅相关书籍、资料以获得更全面深入的理解。
光的等厚干涉考试例题：
题目：牛顿环干涉实验
材料和方法：
1. 使用单色平行光垂直入射到牛顿环装置的玻璃片上。
2. 观察和记录不同位置的干涉条纹，并测量干涉环的直径和间距。
3. 改变玻璃片的位置，重复实验。
结果：
1. 观察到明暗相间的干涉环，环的大小和间距不同。
2. 实验中，干涉环的直径越大，环的间距越小。
结论：
1. 牛顿环干涉实验证明了光具有波动性。
2. 干涉环的直径和间距的变化与玻璃片表面的平整度有关。
这个例子展示了如何使用光的等厚干涉实验来理解和解释实验结果，并展示了如何使用波动理论来解释实验现象。
