光的等厚干涉测试包括以下几种：
1. 牛顿环：通过调整平凸透镜和反射镜的角度，可以得到一系列厚度与空气层厚度的干涉图样，从而可以测试平凸透镜的凸面半径和空气层厚度。
2. 双棱干涉仪：这是利用两块平面玻璃的反射产生的干涉条纹，可以用来测量被测物体的厚度、折射率、介电常数，还可以研究各种物理现象，例如光的干涉、衍射、偏振等。
此外，光的等厚干涉测试还可以应用于光学元件、薄膜、光学材料等领域。具体的应用和测试方法可能会因不同的设备和材料而有所不同。
光的等厚干涉测试的一个例子是使用牛顿环装置来测试光学元件表面的平直度。
牛顿环是一种典型的等厚干涉现象，它是由平行光投射到两个平行的透明球面表面形成的。当光线在两个表面之间反射和折射时，它们会在某个特定厚度处发生干涉，形成明暗交替的干涉条纹。这些条纹的间距与光学元件表面的平直度有关。
通过测量牛顿环中的干涉条纹间距，可以确定光学元件表面的平直度。这是因为干涉条纹的间距与表面曲率半径有关，如果表面弯曲，则干涉条纹的间距会发生变化。因此，通过比较测量得到的干涉条纹间距与理论值，可以确定光学元件表面的平直度是否符合要求。
另一个例子是使用双缝干涉仪来测试光的波粒二象性。双缝干涉仪是一种典型的干涉现象，它是由一束光通过两个狭缝形成的。当光线在两个狭缝之间反射和折射时，它们会在某个特定宽度处发生干涉，形成明暗交替的干涉条纹。这些条纹的宽度与光的波长有关，通过测量干涉条纹的宽度，可以确定光的波长是否符合要求。
总之，光的等厚干涉测试可以用于测试光学元件表面的平直度、光的波长等参数，这些参数对于光学系统的性能至关重要。
