光的干涉法测角度通常使用的是干涉条纹的对比度和位置来测量角度。这种方法可以应用于许多不同的光学干涉系统，包括但不限于以下几种：
1. 干涉仪：这是一种常用的光学测量设备，通常用于测量反射镜和透镜的反射率和焦距，也可以用于测量角度。
2. 干涉条纹对比度测量法：这种方法利用了干涉条纹对比度随角度变化的性质。当光束经过一个反射表面时，如果角度发生变化，那么反射光和透射光的相位差也会随之变化，从而导致干涉条纹的对比度发生变化。通过测量干涉条纹的对比度，就可以确定角度。
3. 干涉式折光仪：这是一种利用光的干涉原理来测量液体折射率的仪器。通过测量入射光和折射光的干涉条纹，可以确定折射率。这种方法可以应用于液体表面的微小扰动，也可以用于测量微小角度的变化。
4. 光纤干涉仪：这种方法利用了光纤中的干涉现象来测量角度。光纤中的干涉现象是由于光的相位和振幅的叠加和相消引起的。通过测量干涉条纹的位置，可以确定角度。
这些方法都有各自的优点和局限性，需要根据具体的应用场景和需求来选择合适的方法。
假设我们使用光的干涉法来测量一个微小的倾斜角度。我们使用两个激光器，一束激光垂直照射在一个表面上，另一束激光从倾斜的角度照射在同一表面上。这两个反射光束之间的相位差与倾斜角度有关。
我们使用两个光电探测器来接收反射光束，并将它们转换成电信号。通过测量这两个电信号之间的振幅差，我们可以计算出倾斜角度。
1. 将一个激光器垂直照射在一个表面上，并使用一个反射镜将光反射到光电探测器。
2. 将另一个激光器以倾斜的角度照射在同一表面上，并使用另一个反射镜将光反射到另一个光电探测器。
3. 调整激光器的倾斜角度，并记录两个光电探测器的电信号。
4. 通过测量两个电信号之间的振幅差，并利用干涉原理中的相位差公式，可以计算出倾斜角度。
这个例子中，我们使用了两个激光器和两个光电探测器来测量一个微小的倾斜角度。通过调整激光器的倾斜角度和记录电信号，我们可以得到精确的角度测量结果。这种方法可以应用于各种表面和材料，具有较高的精度和可靠性。
