光的干涉中测量头通常包括以下几种：
1. 平面镜反射棱镜：用于将一束光反射为两束光。
2. 透射棱镜：用于将入射光分成两束，自己折射为一束新的光。
3. 反射镜：用于反射光束，提供稳定的参考光。
4. 激光器：用于产生单色光或相干光。
5. 分束器：用于将光束分成两路，通常由两个反射面组成。
6. 干涉仪测量头：用于调节和固定干涉仪，通常由两个反射镜组成，其中一个作为参考平面。
此外，还有许多其他类型的测量头，如聚焦透镜、反射聚焦小棱镜等，可以根据具体实验需求进行选择。
假设我们使用一个双缝干涉仪，其中有一个测量头，它包含两个平行的狭缝，每个狭缝都垂直于一个反射镜。当光通过测量头时，它将产生干涉条纹。
1. 将反射镜放置在干涉仪的中心位置，并调整干涉仪以产生清晰的干涉条纹。
2. 缓慢移动反射镜，同时观察干涉条纹的变化。当反射镜移动时，干涉条纹会发生变化，这是因为光程差发生了变化，导致干涉强度分布发生了变化。
3. 通过测量干涉条纹的变化，我们可以确定反射镜的移动量。由于干涉条纹的变化与光程差的变化成正比，因此可以通过测量条纹变化的角度或间距来计算反射镜的移动量。
这个例子展示了如何使用干涉仪器的测量头来测量微小的位移。通过观察干涉条纹的变化，我们可以确定物体的位置或移动量，这对于许多科学和工程应用非常重要。
