偏光显微镜是用于观察高聚物结晶结构的一种常用工具。在偏光显微镜下观察高聚物时，可以看到许多特征性的结构细节，如晶体的形态、大小、分布等。对于高聚物结晶的观察和分析，可以采用以下方法：
1. 偏光角度观察法：通过改变偏光显微镜的倾斜角度，观察晶体的变化，从而确定晶体的取向和晶粒大小。这种方法可以用于测定结晶度、晶体取向和晶粒大小等参数。
2. 偏光干涉法：通过在晶体表面放置一个透明的薄片，使两个偏振片之间的晶体表面发生干涉，从而得到干涉图像。通过分析干涉图像，可以确定晶体的形态和结构。
3. 偏光显微镜与扫描电子显微镜联用：这种方法可以观察高聚物结晶的微观结构和形态，同时还可以观察晶粒的尺寸分布、晶体取向等参数。
需要注意的是，偏光显微镜只能观察透明或半透明的高聚物结晶结构，对于不透明或颜色较深的高聚物，需要采用其他方法进行观察和分析。同时，偏光显微镜的使用需要具备一定的专业知识和技术，需要经过专业培训才能正确使用。
步骤：
1. 将样品制备成薄片，可以使用适当的溶剂溶解或熔融样品，然后将溶液或熔融物过滤以去除任何不溶物。
2. 将制备好的薄片放置在偏光显微镜的载物台上，并确保样品与两个偏光片（一个起偏镜和一个检偏镜）之间的角度保持一致。
3. 调整起偏镜和检偏镜的位置，使光线通过样品时产生最大的偏振光强度。这可以通过旋转检偏镜来实现。
4. 使用目镜观察样品，并记录下在偏光显微镜下观察到的最大偏振光强度位置。
5. 记录下观察到的最大偏振光强度位置后，可以通过测量该位置与两个偏光片之间的距离来确定样品的大小。
6. 根据已知的偏振光强度与样品大小之间的关系，可以计算出样品的结晶大小。
需要注意的是，偏光显微镜测量的结晶大小通常是通过测量晶体的尺寸或晶粒的数量来估计的，而不是直接测量晶体的长度或宽度。因此，需要使用适当的图像分析软件来准确地测量晶粒的大小。
以上是一个简单的偏光显微镜测量高聚物结晶大小的例子，实际操作中可能需要根据样品的特性和要求进行调整。
