光的等厚干涉是指入射平行光垂直入射到厚度变化均匀的薄膜上，薄膜的两个表面反射的光发生干涉，形成的干涉条纹或干涉花样。它通常用于测量薄膜的厚度。光的等厚干涉具有以下特点：
1. 干涉条纹的中心是一系列明暗相间的同心圆环，其半径与薄膜厚度成线性关系。因此，可以通过观察干涉条纹中心的变化来测量薄膜的厚度。
2. 当薄膜厚度均匀时，干涉条纹是平行的，但当薄膜厚度变化时，干涉条纹会发生弯曲。
3. 薄膜越薄，条纹越密集，反之亦然。
4. 干涉条纹可以用于检查光学元件表面的平整度，以及测量光学元件表面的粗糙度。
总之，光的等厚干涉是一种基于干涉原理的测量技术，可用于测量薄膜厚度和检查光学元件表面的平整度。
光的等厚干涉是指两相干光源发出的光波在空间某点叠加而产生干涉现象时，所有光波在该点处的波前（即光线在空间运动的轨迹）相同，即厚度相同的地方，光程差相等，形成的干涉条纹。
题目：
在一个双缝干涉实验中，如果光源S发出的光经过双缝S1和S2后，在光屏P上的干涉条纹中心位置与中央零级亮纹重合。已知双缝间距为d，双缝到光屏的距离为L，并且光屏上第n级亮纹中心的衍射角为θn。求光源S的波长λ。
答案：
由于光源S发出的光经过双缝S1和S2后产生了等厚干涉条纹，因此可以通过干涉级数来确定光源S的波长。根据等厚干涉原理，当两相干光源发出的光波在空间某点叠加而产生干涉现象时，所有光波在该点处的波前相同。因此，干涉条纹的中心位置与光源的波长无关。
根据题意，光屏上第n级亮纹中心的衍射角为θn，因此可以列出等式：
d/L = (n-θn)/λ
其中d为双缝间距，L为双缝到光屏的距离，n为亮纹中心位置的级数，θn为衍射角。将已知量代入上式，即可求出光源S的波长λ。
需要注意的是，这个例题只是一个简单的应用，光的等厚干涉在实际应用中还有许多其他的应用场景。
