光的干涉检验可以用来检测光学元件表面的平整度、波前畸变以及光学系统的成像质量。以下是几种常见的光的干涉检验方法：
1. 干涉条纹对比度检测：干涉条纹的对比度可以反映表面平整度，对比度低说明表面不平整。
2. 菲涅尔衍射干涉检测：通过菲涅尔衍射干涉仪可以检测光学元件的波前畸变，包括球面、平面、色差等。
3. 激光全息干涉检测：激光全息干涉仪可以检测光学元件的表面形貌、应力、材料折射率变化等。
4. 波前校正干涉检测：这种方法可以用来检测光学系统的成像质量，并可以进行波前校正。
此外，还有相位扫描干涉检测等方法，可以根据具体应用场景和需求选择合适的干涉检测方法。
光的干涉检验的一个例题可以是：
题目：使用干涉仪测量光的波长。
步骤：
1. 将干涉仪调整平衡，观察干涉条纹。
2. 调整入射光的波长，观察干涉条纹的变化。当干涉条纹间距变化时，说明入射光的波长发生了变化。
3. 使用测量工具测量相邻两条亮纹之间的距离，从而求得新的入射光的波长。
解释：干涉仪是一种精确测量微小位移的仪器，当光束通过干涉仪时，不同光程的空气隙会产生干涉条纹。光的波长越长，产生的干涉条纹就越稀疏，因此通过测量亮纹之间的距离可以间接得到光的波长。
注意事项：
1. 确保干涉仪已经调整平衡，否则无法得到准确的测量结果。
2. 确保使用的光源是单色光源，否则不同颜色的光会产生不同的干涉条纹，导致测量结果不准确。
3. 确保空气隙的大小和形状对光程的影响相同，否则会影响干涉条纹的分布和亮度，从而影响测量结果。
